ЧИСЛЕННО-АНАЛИТИЧЕСКИЙ ПОДХОД И РАБОЧИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ФРОНТАЛЬНЫХ P-N ПЕРЕХОДОВ

Автор(и)

  • A. I. Shevchenko Таврійський національний університет ім. В. І. Вернадського, м. Симферополь, Кримський науковий центр Національної академії наук України і МОН України, Україна
  • A. S. Mazinov Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут», м. Київ, Україна
  • L. D. Pisarenko Таврійський національний університет ім. В. І. Вернадського, м. Симферополь, Україна

Ключові слова:

фотогальванічний прилад, p-n перехід, чисельно-аналітичний розрахунок, вольтамперні характеристики.

Анотація

Проведено експериментальні та теоретичні дослідження фотоелектричних елементів на основі монокристалічного кремнію. Розглянуто основні теоретичні апроксимації для опису фронтального близько залягає р-n переходу. Запропоновано чисельно-аналітичний підхід до опису дифузійної моделі бар'єру оптоелектронного приладу. З порівняння експериментальних і теоретичних залежностей показані можливі технологічні особливості, що змінюють струмові характеристики приладу.

 

Біографія автора

A. I. Shevchenko, Таврійський національний університет ім. В. І. Вернадського, м. Симферополь, Кримський науковий центр Національної академії наук України і МОН України

National Taurida V.I. Vernadsky University, Crimean Scientific Centre of NAS and MES 

Посилання

References:

1. Green M., Zhao J., Wang A. Wenham S. Very high efficiency silicon solar cells – science and technology // IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. – 1999. – VOL. 46, № 10, p.p. 1940–1947.(En)

2. Hausmann S. The sun is rising in the East// Sun & wind energy. – 2010. – № 9. – С. 90–102. (En)

3. Joun Iken Draw and saw – a system comparison // Sun & wind energy. – 2006 – № 2 С. 106–112. (En)

4. Redfield D. Revised model of asymmetric p-n junctions // Applied Physics Letters – 1979, . vol. 35, July 15 – P. 182–184. (En)

5. Gurtov B. Solid-state electronics. Petrozavodsk.: Petrozavodsk GU, 2004 - 312 p.

6. Zee S. Physics of semiconductor devices. Book 1. Tran. English, Moscow:Mir, – 1984.– 456 p.

7. Mazinov A. Pisarenko, L., Shevchenko А. Deviation of the diffusion constants and its effect on the profile of finely-lying p-n junction // Tekhnicheskaia elektrodinamika. – 2012. – special issue of "Power Electronics and Energy Efficiency"– Part 1- P. 204–208 (Rus.).

8. Mazinov A., Shevchenko, A., Bykov M. The asymmetry of the distribution density of the compensated volume charge at the metallurgical pn junction // Journal of Nano-and Electronic Physics – 2012 – Volume 4, № 3, 03026(4cc).

9. Shvets E.,. Golovko Y. The dependence of the distribution of impurities in the crystallization of silicon on the dopant // Electronika i Svyaz. – 2008. – № 1–2 (42–43), P. 14–16.

##submission.downloads##

Опубліковано

2013-08-19