ОЦЕНКА ПОТЕРЬ ПРОВОДИМОСТИ ДЛЯ НЕКОТОРЫХ МОЩНЫХ ПОЛЕВЫХ ТРАНЗИСТОРОВ ПРИ ПОВЫШЕННОЙ ТЕМПЕРАТУРЕ

Автор(и)

  • A. A. Tyshko NATA Consulting, USA, США
  • V. V. Popov Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут», м.Київ, Україна

Ключові слова:

MOSFET, Silicon, Silicon Carbide, drain-to-source resistance, high temperature.

Анотація

При разработке высокочастотных преобразователей предназначенных для работы в расширенном диапазоне температур от +175С и выше [1], первый вопрос связан с выбором соответствующей элементной базы.

Посилання

References:

Mohan, Underland, Riobbins, – Power Electronics, Converters, Applications and Design. Wiley, Second Edition, 1995

2. Ralf Locher - Introduction to Power MOSFETs and Their Applications, Application Note AN-558, National Semiconductor, 1988

3. STB11NM80 Datasheet, загружено с сайта производителя ST-Microelectronics

4. Fairchild Semiconductor Co, Application Note AN9010, July 2000, загружено с сайта http://www.fairchildsemi.com/an/AN/AN-9010.pdf

5. А. А. Тышко, В. А. Попов, Высокочастотные преобразователи для приборов на основе магнитно-ядерного резонанса, работающие при повышенных температурах. Технічна електродинаміка. Тематичний випуск “Силова електроніка та енергоефективність”. ISSN 1607-7970, Ч. 2. – 2012. – С. 46–48.

6. David Divins, Using Simulation to Estimate MOSFET Junction Temperature in a Circuit Application, загружено с сайта http://www.ansoft.com/firstpass/pdf/ Using_ Simulation_to_ Estimate_MOSFET_Junction_Temperature.pdf

##submission.downloads##

Опубліковано

2013-08-19